X射線熒光光譜法是元素分析的主要手段之一,在元素分析中具有制樣簡單、無損、快速、不破壞樣品、可以多元素同時分析等優(yōu)點。
X射線熒光光譜儀就是這樣一種分析儀器,目前市場上使用比較多的兩種型號是能量色散型和波長色散型的X射線熒光光譜儀。但這種傳統(tǒng)的儀器有時候靈敏度不夠高,無法滿足微量或痕量應用領域的檢測需求,因此這制約了它的發(fā)展。
近年來,X射線熒光光譜技術飛躍發(fā)展,在多項核心技術取得突破,一種高靈敏度的X射線熒光光譜儀應運而生,它也可以稱為單波長激發(fā)-能量色散X射線熒光光譜儀,采用微焦斑X射線管,依靠全聚焦型雙曲面彎晶將X射線管出射譜中靶材高強特征射線單色化取出并聚焦到被測樣品點,由于單色化入射,避免了由于X射線管出射譜中連續(xù)軔致輻射造成的背景干擾,從而大幅提升被測元素熒光射線的信噪比,同時采用高分辨率硅漂移探測器窗口接近樣品測試點,取得樣品中元素熒光射線的極大立體角,進一步提升元素熒光入射到探測器的射線強度。
高靈敏度X射線熒光光譜儀原理:
X射線光管出射譜由靶材的特征X射線分立譜以及軔致輻射連續(xù)譜組成,這些射線入射到樣品中,激發(fā)樣品中元素特征X射線的同時,又會產(chǎn)生入射譜的康普頓散射和瑞利散射,探測器同樣會接收到這些散射背景,從而造成了連續(xù)背景信號的干擾,降低了元素檢測的峰背比,使樣品中微量或痕量元素難以被檢出。
X射線管出射譜由連續(xù)譜線和特征譜線組成,全聚焦型雙曲面彎晶僅衍射X射線光管出射譜中的高強度特征X射線,從而入射到樣品的X射線具有很好的單色性,因此從樣品出射的X射線除了樣品中的元素被激發(fā)產(chǎn)生的熒光X射線(線光譜)和單色入射線的瑞利散射和康普頓散射以外,不存在連續(xù)散射背景,從而保證待測元素特征線具有極低的背景干擾,被激發(fā)元素的熒光X射線用SDD(硅漂移探測器)檢測,得到高分辨和高靈敏度的測試結果。
高靈敏度X射線熒光光譜儀具備傳統(tǒng)光譜儀無損、快速、多元素同時分析等特點,同時又具備高靈敏度的特點,其將X射線熒光的應用領域不斷延伸,除了傳統(tǒng)X射線應用領域外,新的領域成為高靈敏度X射線熒光光譜儀的市場,具有廣闊的市場前景。